2024年4月13日，由上海理工大学、苏州慧利仪器有限责任公司主办，SPIE上海理工大学学生分会协办的“光学干涉计量技术研讨会”在西交利物浦国际会议中心成功召开。
德国斯图加特大学Wolfgang Osten教授、中国计量科学研究院张恒研究员、深圳大学彭翔教授、苏州科技大学吴泉英教授、中国科学院上海光学精密机械研究所司徒国海研究员、Light：Advanced Manufacturing期刊编辑部郭巳秋主任、江苏省计量科学研究院、苏州市计量测试院、北京长城计量测试技术研究所、中国科学院上海天文台、昆山市计量检测中心、扬州市检验检测中心、上海光源、冠乾科技（上海）有限公司等单位的专家学者齐聚一堂，共同研讨光学干涉计量技术的最新进展。会议由上海理工大学韩森教授主持。
Wolfgang Osten教授做专题报告
Wolfgang Osten教授做“Different Approaches for Resolution Enhancement in Optical Micro and Nano Metrology”专题报告，介绍了微纳光学测量中提高分辨率的不同方法，探讨了光学计量的优缺点和发展趋势。
张恒研究员做专题报告
张恒研究员做“平面度检测技术发展与现状”专题报告，提出了检测数据一致的重要性，评估了平面度检测从等厚、等倾到相移干涉技术的发展与现状，并肯定了慧利仪器在中国计量领域的贡献。
韩森教授带领大家参观实验室
随后，在韩森教授的带领下大家参观了上海理工大学和苏州慧利仪器联合实验室。慧利仪器庄锦程经理进行了产品简介。
学术报告分享
最后，上海理工大学博士生张凌华同学，SPIE上海理工大学学生分会主席沈宇航同学、副主席杨颖同学分别带来他们在光学干涉计量领域的学术报告分享。Wolfgang Osten教授赠予韩森教授他的新书《Holography and Speckle》，并合影留念。
Wolfgang Osten教授将新书赠予韩森教授
合影留念